Kyocera desenvolve nitreto de silício para testes de chips de última geração
Recentemente, a Kyocera anunciou o desenvolvimento de um novo material cerâmico de nitreto de silício para testes funcionais de microchips de próxima geração. Este novo material ostenta propriedades de expansão térmica e resistência à flexão aprimoradas, permitindo a produção de placas finas de nitreto de silício com espaçamento extremamente estreito entre as sondas de contato, o que é crítico para testar microchips de próxima geração.
Um cartão de sonda semicondutor é uma ferramenta de teste eletrônico de precisão usada para fazer contato com vários pontos de teste em chips semicondutores durante testes em nível de wafer (comumente chamados de "pads"). Ao estabelecer contato nesses pontos, o cartão de sonda pode transmitir sinais elétricos para avaliar a funcionalidade, o desempenho e as características elétricas do chip. Normalmente montado em equipamento de teste automático (ATE), o cartão de sonda é usado para triagem preliminar antes do corte do wafer para eliminar chips defeituosos. Essas sondas, instaladas em placas-guia de nitreto de silício, podem consistir em contatos de metal, sondas de mola ou sondas MEMS. O layout e o espaçamento dessas sondas devem ser projetados com precisão (a distância entre as sondas geralmente é de apenas algumas dezenas de mícrons, com até 100.000 sondas em uma única placa-guia) para garantir contato preciso com pontos de teste no wafer. Além de exigir alta resistência mecânica e à flexão para suportar as sondas, a estabilidade térmica e as propriedades isolantes das placas-guia de nitreto de silício ajudam a reduzir as alterações de resistência induzidas pela expansão e evitam vazamento de corrente, fatores cruciais para testes precisos.
Coeficiente de expansão térmica aprimorado
A Kyocera divulgou que o novo nitreto de silício efetivamente dobrou seu coeficiente de expansão térmica a 150°C em comparação com materiais anteriores e oferece uma alta resistência à flexão excedendo 800 MPa (megapascals). A combinação do substrato de nitreto de silício com a placa de sonda aumenta a eficiência e a precisão em testes de semicondutores, garantindo a qualidade e o desempenho do chip.
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